數(shù)字延時(shí)脈沖發(fā)生器的應(yīng)用介紹
　　數(shù)字延時(shí)脈沖發(fā)生器的放射性原子核的衰變在時(shí)間上是隨機(jī)的。因此,一個(gè)放射源在單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生衰變的原子核數(shù)圍繞其平均值成泊松分布。核探測器接收到的信號(hào)計(jì)數(shù)率也圍繞平均計(jì)數(shù)率呈泊松分布。其他隨機(jī)過程,例如一定束流轟擊靶發(fā)生的反應(yīng)數(shù)、正負(fù)電子束團(tuán)對撞時(shí)單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生的事例數(shù)也都遵循同樣的規(guī)律。
　　一般,在檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)的性能時(shí)用數(shù)字延時(shí)脈沖發(fā)生器來模擬從核探測器來的信號(hào)。脈沖產(chǎn)生器信號(hào)是周期性的,它們之間的時(shí)間間隔總是一樣的。而一些較復(fù)雜的系統(tǒng)對周期性脈沖和隨機(jī)脈沖的反應(yīng)可能不一樣,特別是當(dāng)計(jì)數(shù)率接近系統(tǒng)的處理能力的*。為了檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)在隨機(jī)觸發(fā)下的性能,需要用時(shí)間上隨機(jī)的脈沖信號(hào)源。
　　數(shù)字延時(shí)脈沖發(fā)生器在用碼密度法測試TDC的微分非線性時(shí)需要輸入一個(gè)時(shí)間上隨機(jī)的信號(hào)。盛華義等提出用電路本身的隨機(jī)噪聲產(chǎn)生隨機(jī)擊中信號(hào)。
　　先后用數(shù)字的方法研制了兩種隨機(jī)脈沖產(chǎn)生器。一種用單片機(jī)給出隨機(jī)脈沖間隔;第二種用偽隨機(jī)碼給出隨機(jī)脈沖。