有別于基于傳統(tǒng) Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測(cè)方法直接構(gòu)建的動(dòng)態(tài)干涉儀既不需要移動(dòng)待測(cè)元件多次曝光，也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段，針對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行一次測(cè)量即可獲得其反射面型或透過波差；Kaleo-Multiwave 多色動(dòng)態(tài)干涉儀可用于光學(xué)元件面型檢測(cè)、透過波差測(cè)試、大型望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)測(cè)試及實(shí)時(shí)調(diào)整等。大動(dòng)態(tài)范圍像差測(cè)試能力使其可測(cè)平面 / 球面波而無需中繼鏡，無色差檢測(cè)能力允許使用多個(gè)波長(zhǎng)甚至白光進(jìn)行測(cè)試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長(zhǎng)的準(zhǔn)直光源，可以對(duì)大口徑鏡片進(jìn)行直接或?qū)Ρ葴y(cè)量。

• 紫外、可見、近紅外、短波紅外、中遠(yuǎn)紅外等多個(gè)波長(zhǎng)可訂制

• 納米級(jí)位相分辨率

• 超高動(dòng)態(tài)范圍，>600 條紋數(shù)